简介：X-射线光电子能谱(XPS)可以定性检测元素周期表中除H和He以外的几乎所有元素，可以提供有关固体表面和界面的化学信息（元素种类、相对含量及价态信息）。此外，通过角分辨法及Ar离子剥离法可以提供元素深度分布信息，主要用于固体样品表面的组成、化学状态分析。能进行定性、半定量及价态分析。广泛应用于聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料的研究，以及腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。

检测项目：表面元素组成和化合态分析
仪器型号：Kratos Analytical Ltd  Axis Ultra

送样要求：

1）固体样品面积≤1.0cm2,高（厚）度≤3.0mm；

2）粉末固体样品10-100mg；

3）样品要求真空干燥，不含腐蚀性、易挥发、磁性及放射性物质。