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分析测试服务
镀层/薄膜

分析项目

采用标准

厚度测定

多晶体X射线衍射法通则

JY/T 009-1996

组成分析

多晶体X射线衍射法通则

JY/T 009-1996

羟磷灰石

羟磷灰石等离子喷镀层相含量的X射线衍射测定标准实施规范

ASTM F 2024-2000

-磷合金

金属覆盖层,镍-磷合金镀层,X射线衍射方法

JB/T 8426-96

     

镀层、薄膜分析常涉及两方面的测定:镀层或薄膜厚度的测定和镀层和薄膜的物相组成。

基于X射线衍射与吸收理论,可以通过基片多级衍射法测量薄膜厚度。比如利用X射线衍射仪测量高速钢表面的TiN薄膜厚度,由于膜下基片的衍射强度较高及衍射峰形良好,可以确保薄膜厚度的测量精度。

镀层和薄膜的物相组成分析(定性或定量)实质上与一般的多晶材料的物相分析方法是一样的。


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