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分析测试服务
元素分析
全反射X荧光(TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术,于1971年Yoneda等首先提出的,西德Rich Seifer公司于1981年首先研制成功了第一台实用的商业全反射X射线荧光分析仪,现在TXRF已成为一门成熟的通常可接受的分析技术,广泛用于痕量元素分析、微量样品分析、表面和表层分析、地质样品分析等领域。它突出的优点是检出限低(pg、ng/mL级以下)、 用样量少(μL、ng级)、准确度高(可用内标法)、操作简便、快速,而且可进行无损分析,成为一种不可替代的全新的元素分析方法。它实质上是对能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术的发展。利用x射线的全反射技术,使样品荧光的杂散本底比X荧光能量色散谱仪(EXRF)本底降低约四个量级,从而大大提高了能量分辨率和灵敏度,避免了XRF测量中通常遇到的本底增强或减弱效应;同时TXRF技术又继承了EXRF方法的优越性。它突出的优点是检出限低(pg、ng/mL级以下)、用样量少(μL、ng级)、准确度高、简便、快速,而且可进行无损分析,成为一种不可替代的全新的元素分析方法。与波长色散谱仪(WXRF)方法比较。由于使用内标法,对环境温度等要求很低。因而在简便性、经济性、用样量少等方面,都比WXRF方法有明显的优越性,且波长色散X射线荧光分析仪(WDXRF)除去制样复杂、本底高外,对测试环境和高压电源的稳定性要求很高,使用不方便;与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和FAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较,TXRF分析仪在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面都有着综合优势。

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元素分析

部分参数

TXRF原理和定义

DIN 51003

 

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