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分析测试服务
扫描电镜(SEM)

简介:扫描电镜应用电子光学技术,真空技术,精细机械结构以及现代计算机控制技术,用极细的高能入射电子束轰击样品表面时,将从样品中激发出各种有用的信息,包括二次电子、透射电子、俄歇电子、X射线等,将产生的二次电子用特制的探测器收集,形成信号送到显像管,在荧光屏上显示物体。扫描电镜是一种多功能的仪器,具有制样简单、放大倍数可调范围宽、图像的分辨率高、景深大等特点。数十年来,扫描电镜已广泛地应用在生物学、医学、冶金学等学科的领域中。它可以观察纳米粒子的形貌、在基体中的分散情况以及粒径的测量、材料断口分析1 [$ g2 @. }) l镀层表面形貌分析和深度检测, g1 k( ]0 h$ n0 x、、、、、微区化学成分分析显微组织及超微尺寸材料的研究等分析应用。

检测项目:表面形貌分析
仪器型号:FEI  XL30SFEG

送样要求:固体或粉末,样品必须干燥,样品表面必须带电


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